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微电子电路老化试验设备

 ELEA系列集成电路高温动态老化系统   
ELEA-M存储器老化测试系统
　 ELED-HJ系统电源模块高温老化系统
HIC 混合电路高温老化系统
ELEC-BJ集成稳压器高温老化系统
ELEA-100 32位微处理器和DSP电路高温动态老化系统
ELEA-200 GaAsMIMIC单片集成电路高温动态老化系统
半导体分立器件老化试验设备 DEV133系列高温反偏老化系统  
DEV-BR系列桥堆反偏老化系统
ELEC-HJ多功能综合老化系统
DEV系列二极管恒流老化系统
DEV系列二极管/桥堆全动态老化系统
　 PWD-HJ大功率晶体管老化系统
电子电气元件试验设备 DEV123系列电容器高温老化系统
ELEB系列电磁继电器寿命试验台
ELEB-HC电磁继电器触点抖动监测仪
REL122固体继电器高温老炼监测系统
光电子器件老化试验设备 半导体激光器功率老化台
ELEL-640 LCD老化测试系统
微波器件老化试验设备 微波晶体管器件系列老化设备
DPA试验类 4511L/4511L-R颗粒碰撞噪声检测仪
HA-10内引线拉力/芯片剪切应力测试仪
SAS-3000可焊性试验台
202TL可焊性试验台
测试设备 REL121固体继电器综合参数测试仪
GTS-601电源模块综合参数测试系统

　
  V系列可靠性升级产品
　
  电 池 系 列
  电 源 系 列
　
  厚膜电路(DC/DC变换器)
　
  可 靠 性 系 列
　
　

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