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微波晶体管器件系列老化系统
符合标准：GJB128、MIL-STD-750
适用范围：适应各种封装、各种波段微波器件的老化和筛选试验。
技术指标：
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型 号 |
ELEC-G |
PWD-011 |
PWD-100 |
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产品图片 |
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老化模式 |
稳态 |
稳态 |
脉冲 |
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老化工位 |
720 |
16 |
16 |
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老化电流/功率 |
0.01A-0.5A/0.3W-5W |
0.1A-5.0A/75W-150W |
1A-20A/50ms-500ms |
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适应器件 |
功率范围 |
小功率微波器件 |
大功率连续波微波器件
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大功率脉冲波微波器件 |
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频段范围 |
500MHz-4GHz以上；P、L、S波段
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主要功能 |
采用特殊的防自激振荡电路，以及专用的试验夹具；
连续测试每个DUT的试验电流、电压、温度参数，实时记录，自动保护 |
工作特性:
● 本设备可通过计算机控制系统由上位机集中进行控制、监测、文件管理，同时进行数据处
理，以及失效时间、失效位置的记录，有利于失效分析。
● 人机交互采用大屏幕液晶显示屏和一体化键盘，可连接计算机，软件基于WINDOWS平台可随时查
询老化参数。
● 实时动态描绘试验参数对应时间变化的曲线，提供表格形式的试验报告。
● 配置高洁净度老化电源，特有的试验电路有效抑制自激振荡。
● 采用高频电磁波吸收材料和独立的试验电路配置。
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