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       微电子电路老化试验设备系列

 

   

HIC混合电路高温老化系统

 符合标准:GJB548(等同MIL-STD-883)、GJB 597(等同MIL-M-38510

 适用范围: 适应于对各种数字、模拟、数模电路、混合电路进行高温动态老化试验。

 技术指标:

  

HIC

产品图片

整机分区

最多16

试验温度

最高150

数字信号

最大编程深度为32k

编程分辨率为100ns

最小编程步长为500ns

频率为1MHz(最高)

输出幅度范围为2V~15V

模拟信号

波形:正弦波、矩形波、三角波、前沿锯齿波、后沿锯齿波

频率、初始相位、幅度、偏移量可程控设定,并具有定时反相功能

信号频率:1Hz~32kHz

峰峰值:0~±10V

直流偏移量:0~±Vpp/2

最大驱动电流:1A

老化电源(每区)

4

2组正电源:VCC1+1V~+30V)、VCC2+1V~+18V

2组负电源:VEE1-1V~-30V)、VEE2-1V~-18V

电流为最大8A

具有过流、过压、短路及过热保护功能

电源要求

AC220V50Hz8kW或以下

  

500kg

外形尺寸(宽×高×深)

1313mm×1950mm×1350mm

 工作特性:

 

 ●   每个区可实时检测96个回检通道信号的频率、峰值、有效值,并根据出错判据显示出错通道。

 ●   可设置回检信号的出错判据;通过自学习能自动产生回检信号的出错判据。

 ●   每个区均有96个信号回检,能通过外接示波器观测每个通道的信号。

 ●   通过自检能显示系统工作是否正常以及故障情况。

 ● 大屏幕液晶显示器实时显示每个区的工作状态。

 ● 每个区提供8路数字信号,每路信号均可编缉。

 ● 基于WINDOWS平台的操作界面;具有器件库编缉、文件管理等功能。

 

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