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       微电子电路老化试验设备系列

 

   

 

ELED-HJ 系列电源模块高温老化系统

 符合标准:GJB548(等同MIL-STD-883)、MIL-M-28787

 适用范围: 适用于对各种单路或多路输出DC /ACDC/DC电源功率模块进行高温功率老化。

 技术指标:

 

ELED-HJ

ELED-HJR

产品图片

系统分区

16区,可同时进行16种电源模块的老化试验

试验温度

试验温度最高150℃。可测试器件壳温,超温可保护。

老化电源

30V60V100V等规格可选

恒压恒流2种工作模式

 

每板12双向电子负载,整机共192

每板12~48路电阻负载,可换式夹具安装

每路电压最高60V,电流最大5A

每路功率容量为50W

具有过流保护电路

可独立启动、暂停、继续、结束

试验夹具

采用航空专用零插拔力试验插座及耐高温(150℃)基板,适应各种不同形式的封装

电源要求

AC220V50Hz5kW或以下

重   量

500kg

外形尺寸(宽×高×深)

1313mm×1950mm×1350mm

 工作特性:

 ●    每区老化器件的输入电压可程控设置,电源可按需要选配。

 ●     老化板有完善的滤波措施,消除多个电源模块间、输入老化电源与模块电源间的相互干扰,

     确保安全老化和准确测量。

 ●  系统可实时检测管壳温度,当壳温超过设定温度时可自动关断相应通道,从而避免器件发热

     导致的损坏。

 ●  可检测每个模块的输入电压、输出电压/电流、壳温等参数,实时记录和显示这些参数,并

     描绘其随时间的变化曲线。

 ●    基于WINDOWS平台的软件操作界面,具有器件库编缉、文件管理等功能。

 ●     保存所有试验信息,试验结束可自动形成试验报表。

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