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ELEC-HJ多功能综合老化系统
符合标准：GJB128(等同MIL-STD-750)
适用元器件：各种封装中小功率二极管、三极管、MOS管、稳压管、可控硅、集成稳压器、电阻
器、光电耦合器等等
适用试验：
半导体器件（包括高频小功率器件等）的稳态寿命、筛选试验和热疲劳试验。
技术指标：
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型 号 |
ELEC-HJ |
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产品图片 |
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系统分区 |
最多16区 |
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试验容量 |
最多1024位 |
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老化时间设定 |
稳态试验：9000h内可设定 |
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间歇试验：通、断分别：5sec～24h |
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老化电源 |
4套，可扩展到8套 |
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VB电源（0～15V/40A） |
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VC电源（0～60V/12A） |
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具有过压和恒流保护功能 |
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电流检测误差 |
≤±1% |
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电压检测误差 |
≤±1% |
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电源要求 |
AC220V，50Hz，5kW |
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重 量 |
500kg或以下 |
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外形尺寸（宽×高×深） |
1130mm×1815mm×930mm |
工作特性:
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适合的元器件品种繁多；16个控制区，可配置4～8个电源区，同时进行4～8种规格器件的老
化筛选试验。
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自动、实时检测每个试验工位的试验号数，并自动记录、存贮、形成试验报告。
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单机独立操作时，人机交互采用大屏幕液晶显示屏和一体化键盘设计，界面丰富直观；配置
微型打印机可随时输出老化参数。
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可与集散控制系统的上位机通讯，由微机集中进行控制、监视、运行管理、数据统计、失效
分析等。
● 电压、电流测量采用准四端测试法，确保测试精度。
● 试验箱提供2个独立的试验温区，计算机自动控制调节和检测试验区温度。
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