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ELEA系列集成电路高温动态老化系统
符合标准：GJB548（等同MIL-STD-883）、GJB
597（等同MIL-M-38510）
适用范围：适用于对各种数字、模拟、数模混合集成电路和SOC电路、微处理器、存储器等微
电子电路进行高温动态老化试验。
技术指标：
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型 号 |
ELEA-HJA |
ELEA-HJA01 |
ELEA-HJS |
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系统分区 |
最大16区 |
最大8区 |
最大4区 |
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产品图片
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试验容量 |
208×16(以DIP14计) |
208×8(以DIP14计) |
45×4(DIP20以下通用) |
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试验温度 |
最高150℃ |
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数字信号 |
每板64路，每路可独立编辑信号的数据、地址、控制、三态特性 |
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最小编程分辨率100ns，最小编程步长500ns |
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编程深度256k |
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信号频率最高1MHz |
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信号幅度程控范围：2.0V～18.0V |
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最大寻址深度：64G |
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模拟信号 |
2路独立可编程（可扩展到4路） |
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信号频率：1Hz～32kHz |
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波形：正弦波、三角波、前沿锯齿波、后沿锯齿波、矩形波 |
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最大驱动电流：1A |
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信号幅度Vpp：0～20V；直流偏移量：0～1/2Vpp |
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信号检测 |
64路信号示波监测接口 |
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宽范围数字、模拟信号频率自动测试、记录 |
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二级电源 |
可程控VCC、VMUX、VEE |
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输出能力：2V～18V/10A |
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电源要求 |
AC380V,50Hz,三相（220V单相可选） |
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5kW以下 |
4kW以下 |
3kW以下 |
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重 量 |
约500kg |
约350kg |
约220kg |
工作特性:
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一板一区工作方式，最多可同时进行16种规格、批次的器件进行筛选试验，适应多品种、小批量。
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超温报警装置，确保温度条件安全施加。
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可检测各组电源工作情况及试验箱温度并描绘其与时间相关的曲线。
● 软件全编辑信号产生方式，可满足包括存储器在内的多种集成电路器件的动态老化要求。
● 集成的用户软件包基于WINDOWS平台开发，功能完备并有良好的可扩展性。
● 主从式RS485全双工高速串行通讯接口，远距离通讯能力强，数据传输安全可靠。
● 试验容量和系统分区可根据实际情况另行配置。
● 试验箱可选择两个小型试验箱，每个试验箱装8块老化板，可同时进行两个温度条件的试验。
● 可提供专用调式台，具备独立的DUT试运行接口和维修接口，方便试验前或试验中对DUT和老化板进行试验状态检查。
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