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ELEA-M存储器老化测试系统
符合标准：GJB548（等同MIL-STD-883）、GJB
597（等同MIL-M-38510）
适用范围：
适应于对DRAM、SDRAM、SRAM、DDR、RDRAM、Flash
Memory等各类存储器
进行高温动态老化和测试。
技术指标：
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型 号 |
ELEA-M |
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产品图片 |
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整机分区 |
48个老化板插槽，4个独立工作区 |
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高温试验箱 |
最高150℃，温度均匀度：3℃，温度控制器分辨率：1℃
可调风门快速降温装置 |
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数字信号 |
每板信号通道：48路；比较通道：48路；三态控制：48路 |
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每路信号驱动能力：200mA（最大） |
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Tr和Tf：≤50ns（C=1000pf，10%~90%） |
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高电平过冲：10%（使用诊断板/接匹配电容） |
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低电平反冲：10%（使用诊断板/接匹配电容） |
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高电平范围：1.5V~8V，分辨率：100mV |
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低电平：≤0.4V |
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噪声电压：≤500mV |
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寻址深度：64G |
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地址模式发生器：X=16bit，Y=16bit |
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数据模式发生器：16bit |
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定时发生器，向量发生器，CS发生器 |
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老化电源(每区) |
程控老化电源：DC3~10V/10A；电源可扩展1路（DC3~10V/3A） |
工作特性:
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在老化中可对老化器件进行功能测试。
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具有基于WINDOWS平台的软件操作界面和功能，自动分区监视老化状态。
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老化图形的编缉。
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图形转换器。
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老化信息和测试信息显示。
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系统校验功能。
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文件格式的转换。
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