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ELEA-200 GaAsMMIC集成电路高温老化台
符合标准：GJB548（等同MIL-STD-883）、GJB
597（等同MIL-M-38510）
适用范围：
适用于GaAsMMIC数控衰减器系列和GaAsMMIC高速开关系列等电路进行高温电老化试验。
技术指标：
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型 号 |
ELEA-200 |
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系统分区 |
4区 |
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试验温度 |
最高175℃ |
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数字信号 |
每板24路数字信号，其中12路信号电平范围0~5V，
12路信号电平范围0~-5V，每路信号驱动能力≥50mA
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二级电源 |
每板提供1路老化电源：12V/5A |
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试验夹具、载体 |
具有175℃环境下的适应性和可靠性 |
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试验安全性 |
具有防自激、振荡的安全措施，确保微波高频器件的试验安全进行 |
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电源要求 |
AC220V,50Hz, 5kW或以下 |
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重 量 |
约400kg |
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外形尺寸（宽×高×深） |
1313mm×1950mm×1350mm |
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