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ELEA-100 32位微处理器系列电路高温动态老化系统
符合标准：GJB548（等同MIL-STD-883）、GJB
597（等同MIL-M-38510）
适用范围：
适用80386
微处理器、80486 微处理器、80586
微处理器、32位RISC
嵌入式系
列、32位微处理器接口集成电路系列及大规模门阵列系列集成电路进行高温动态
老化试验。
技术指标：
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型 号 |
ELEA-100 |
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系统分区 |
8区 |
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试验温度 |
最高150℃ |
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数字信号 |
每板256路双向信号通道 |
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编程步长100ns |
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编程深度256k |
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频率最高5MHz |
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信号幅度程控范围：2V～8V |
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老化测试控制 |
提供可编辑老化、测试流程，实现边老化边测试 |
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二级电源 |
2V～8V/10A |
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电源要求 |
AC220V,50Hz, 5kW或以下 |
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重 量 |
约400kg |
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外形尺寸（宽×高×深） |
1313mm×1950mm×1350mm |
工作特性:
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一板一区工作方式，最多可同时进行8种规格、批次的器件筛选寿命试验。
● 实时监测各区数字信号，报告故障信息。
● 实时监测各区的二级电源电压、电流值，并描绘电参数/时间曲线。具有过流、过压、欠压
和过热关联保护功能。
● 检测试验箱的温度并记录温度值，描绘温度/时间曲线。
● 具有强大的器件库编缉和管理的功能，适应CPU复杂的编程需要并具有良好的可扩展性。
● 主从式RS485全双工高速串行通讯接口，远距离通讯能力强，数据传输安全可靠。
● 打印老化信息库数据、各种曲线及检测信息。
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