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       半导体分立器件老化试验设备系列

 

   

 

DEV系列二极管/桥堆全动态老化系统

 符合标准:GJB128(等同MIL-STD-750)

 适用范围:适应对各种封装的整流二极管、桥式整流器进行全动态老化试验。

 技术指标:

  

DEV-DV01/02

DEV-BV01/02

DEV-DM

适应器件

整流二极管

桥堆

快速二极管

老化工位

48/16

24/8

80

老化电源

2/4路正向老化电源;提供正向动态电流;每路120A以上

高频脉冲电源,

频率30k~150kHz

正向电压5V

反向电压1000V

2/4路反向老化电源;提供反向动态电压;1500V电压以上

每工位试验电流

最大5A/30A

最大10A/30A

正向脉冲电流1A~3A

检测功能

检测每个器件正向电流IF、导通电压VF、反向漏电流IR、反向动态电压VR

保护功能

击穿保护,自动脱离试验回路

 工作特性:

 ●         通过老化器件夹具选配和老化板设计适应更多规格、封装器件的全动态老化试验。

 ●         正向老化电流和反向峰值老化电压连续可调。

 ●         可实时记录每只器件的检测参数。

 ●         对每只器件提供独立的老化回路,器件试验状态、试验条件互不影响。

 ●         可设置试验时间,试验结束后自动关断老化电流和反向电压。

 ●         老化区域内的风冷量可自动控制。

 ●         大屏幕液晶屏显示界面,键盘输入,菜单式操作及快捷键操作。

 

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