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DEV133系列高温反偏老化系统
符合标准：GJB128(等同MIL-STD-750)
适用范围：
用于二极管、三极管、场效应管、MOS管和可控硅等器件进行高温反偏（HTRB、
HTIR）试验。
技术指标：
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型 号 |
DEV133 |
DEV133A |
DEV133D |
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产品图片
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系统分区 |
16区 |
8区 |
16区 |
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试验容量 |
80×16 |
80×8 |
80×16 |
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试验温度 |
最高150℃ |
双温区，每温区最高150℃ |
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老化电源配置 |
100V、300V、600V、1200V、1500V、2000V等规格任选
可配置2～8路，标准配置4路 |
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电流
检测 |
范围 |
0.1μA～30.0ｍA |
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误差 |
±2%RD±2LSB |
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分辨率 |
0.01μA |
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电压
检测 |
范围 |
0～2000.0V |
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误差 |
±1%RD±2.0V |
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分辨率 |
0.1V |
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老化时间设定范围 |
1min～1000h |
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电源要求 |
AC220V，50Hz |
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4kW |
3kW |
4kW |
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重 量 |
约400kg |
约300kg |
约450kg |
工作特性:
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一板一区工作方式，可同时进行2～8种器件的筛选寿命试验。
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可进行PN结正向电压检测，对失效器件进行判断。
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微型打印机可定时打印后台采样数据。
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系统老化板和控制单元采用高隔离与屏蔽技术，提高了系统的抗干扰能力及安全性。
● 可单机独立操作，大屏幕液晶屏和一体化键盘进行人机交互，也可由微机进行集中控制。
● 试验结束自动生成试验报告，可显示漏电流对应时间、温度的曲线和报表。
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