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     半导体分立器件老化试验设备系列

 

   

 

DEV系列二极管恒流老化系统

 符合标准:GJB128(等同MIL-STD-750)

 适用范围 适应各种封装、各种电流范围的整流二极管、稳压二极管进行

 技术指标:

  

DEV-DS006

DEV-DS040

DEV-DS150

老化模式

串联

串联

串联

试验容量

64×16

12×4

6×4

老化电源

25V/50A

24V/50A

12V/167A

程控恒流电子负载

电压范围

1V20V

1V24V

1V12V

恒流范围

10mA6A

1A40A

40A150A

电源要求

AC380V,50Hz

8kW

AC380V,50Hz 5kW

AC380V,50Hz 5kW

  

300kg

300kg

350kg

外形尺寸(宽mm×高mm×深mm

1300×1680×800

1800×1245×825

1800×1245×825

  

DEV-DS300

DEV-DP300M

 

老化模式

串联

并联

 

试验容量

4×4

24×16

 

老化电源

12V/167A双路

100V/10A

 

程控恒流电子负载

电压范围

1V10V

1V100V

 

恒流范围

100A300A

5mA300mA

 

电源要求

AC380V,50Hz 12kW

AC380V,50Hz 3kW

 

  

300kg

300kg

 

外形尺寸(宽mm×高mm×深mm

1800×1245×825

1300×1680×800

 

 

 工作特性:

 ●         本设备可通过微机进行控制、监视、运转管理、数据统计、失效分析等。

 ●         可检测每路恒流源的工作电流和温度。

 ●         恒流源具有过热保护功能。

 ●         控制和检测试验平台温度。

 ●         可进行试验器件正向电压测试。

 ●         试验中可自动判断器件失效状态

 

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