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DEV-BR
系列桥堆反偏老化系统
符合标准：GJB128(等同MIL-STD-750)
适用范围：
用于二极管、半桥和桥堆等器件进行高温反偏试验。
技术指标：
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型 号 |
DEV-BR01 |
DEV-BR02 |
DEV-BR03 |
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系统分区 |
16区 |
8区 |
16区 |
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试验容量 |
32×16（桥堆）64×16（二极管） |
32×8（桥堆）64×8（二极管） |
32×16（桥堆）
64×16（二极管） |
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试验温度 |
最高150℃ |
双温区，每温区最高150℃ |
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老化电源配置 |
100V、300V、600V、1200V、1500V等规格任选
可配置2～4路 |
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电流
检测 |
范围 |
1.0μA～10.0ｍA |
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误差 |
±2%RD±2LSB |
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分辨率 |
0.1μA |
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电压
检测 |
范围 |
0～1500.0V |
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误差 |
±1%RD±1.0V |
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分辨率 |
0.1V |
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老化时间设定范围 |
1min～1000h |
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电源要求 |
AC220V，50Hz |
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4kW |
3kW |
4kW |
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重 量 |
约400kg |
约300kg |
约400kg |
工作特性:
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可进行试验器件老化电压、漏电流和温度检测，对失效器件进行判断。
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微型打印机可定时打印后台采样数据。
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系统老化板和控制单元采用高隔离与屏蔽技术，提高了系统的抗干扰能力及安全性。
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可单机独立操作，大屏幕液晶屏和一体化键盘进行人机交互，也可由微机进行集中控制。
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试验结束自动生成试验报告，可显示漏电流对应时间、温度的曲线和报表。
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