|
半导体激光器功率老化台
适用范围:对于准连续单条阵列和连续单管型半导体激光器进行功率试验。
技术指标:
|
类 型 |
准连续单条阵列 |
连续单管 |
|
老化电源 |
频率 |
1Hz~1000Hz |
- |
|
脉冲宽度 |
150ms~1ms |
- |
|
输出电流 |
0~150A(峰值) |
0~3A |
|
输出电压 |
0~300V |
0~5V |
|
光功率检测误差 |
≤±2%±20mV |
|
失效判据: |
峰值功率下降30%。(以第一次测试值作为基准) |
|
各工位平台温度控制 |
不高于40℃ |
工作特性:
● 老化箱分为两个工作区,分别对应两种类型的器件。
● 工作条件由主机设定控制并采集存储光探测参数,可产生老化时间与光探测参数的曲
线。可实时查看各管位光探测参数。

返回
|