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       光电子器件老化试验设备系列

 

   

 

半导体激光器功率老化台

  适用范围:对于准连续单条阵列和连续单管型半导体激光器进行功率试验。

  技术指标:

  

准连续单条阵列

连续单管

老化电源

频率

1Hz1000Hz

-

脉冲宽度

150ms1ms

-

输出电流

0150A(峰值)

03A

输出电压

0300V

05V

光功率检测误差

≤±2%±20mV

失效判据:

峰值功率下降30%。(以第一次测试值作为基准)

各工位平台温度控制

不高于40

  工作特性:

       老化箱分为两个工作区,分别对应两种类型的器件。

       工作条件由主机设定控制并采集存储光探测参数,可产生老化时间与光探测参数的曲

     线。可实时查看各管位光探测参数。

                                           

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