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符合标准：GJB128（等同MIL-STD-750）
适用元器件：各种封装中小功率二极管、三极管、MOS管、稳压管、可控硅、集成稳压器、电阻
器、光电耦合器等；
适用试验：各半导体器件（包括高频小功率器件等）的稳态寿命、筛选试验和间歇寿命试验
（OP-LIFE、IFOL）
技术性能：
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型
号 |
ELEC-V |
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试验容量 |
2048工位（标准） |
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系统分区 |
16区（标准） |
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老化电源分区 |
标准4套（可扩到8套）；VB电源（0～25V/40A）；VC电源（0～60V/20A）,具备恒流和过压保护功能 |
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老化温区 |
8个独立程控调速风道提供8个独立温区 |
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恒流源 |
每板8路，2A恒流源（可并联使用，最大到16A），控制精度0.5% |
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老化方式及时间 |
每个电源区可独立选择稳态或间歇试验 |
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老化时间设置范围：10000小时内可设定 |
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间歇通断时间范围：1秒～3000秒 |
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电压、电流检测误差 |
≤1％ |
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工作特性 |
电源调节采用程控和人工调节自适应方式；在人工调节时有第二显示屏显示调节参数,导向指示，防止调节出错;全硬件防插板出错，更安全可靠。 |
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电源要求 |
输入：AC220V,50Hz；整机功率：5kW以下 |
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重量 |
500kg以下 |
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外形尺寸
（宽×高×深） |
1200mm×1700mm×1000mm |
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