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ELEA-VL系列DSP集成电路高温动态老化系统

 

 

 
  V系列可靠性升级产品

 

 符合标准GJB548(等同MIL-STD-883)、GJB597(等同MIL-M-38510)

 适用范围:适应于DSP、FPGA、CPLD等各类超大规模集成电路进行高温动态老化和测试。

 技术性能:

  电 池 系 列
  电 源 系 列
  厚膜电路(DC/DC变换器)
 

 

ELEA-VL

系统分区

8区(标准)

试验容量

2×16

试验温度

最高150

数字信号

96路独立的高速数字信号发生单元,最高频率可达10MHz,各通道可独立定义为输入/输出属性;信号上升、下降沿时间小于10ns100pf容性负载);

模拟信号

单路多种类模拟信号发生单元及驱动电路,最高频率可达1MHz

工作特性

基于JTAG的边界扫描单元电路具有老化测试程序自由加载、内部逻辑功能和I/O管脚充分监测的能力。统针对各种DSPFPGA老化器件提供了代码覆盖较高的老化测试程序,实现了真正意义上的边老化边测试(TDBI)

通讯速率

500K

二级电源

四路独立的高动态响应二级电源模块,最低电压可输出1V

电源要求

输入:AC380V,50Hz,三相(220V单相可选);整机功率:5kW以下

  

500kg

 

  可 靠 性 系 列
 

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