电 池 系 列 |
符合标准:GJB527(等同MIL-STD-883)、GJB597(等同MIL-M-38510)
适用范围:适用于对各种数字、模拟、数模混合集成电路、混合电路及微处理器、存储器及等微
电子电路进行高温动态老化试验。
技术性能:
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型 号 |
ELEA-V |
ELEH-V |
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系统分区 |
16区(标准) |
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试验容量 |
208×16(以DIP14计) |
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试验温度 |
最高150℃ |
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数字信号路数 |
每板64路 |
每板8路 |
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数字信号 |
每路可独立编辑信号的数据、地址、控制、三态特性;信号最高频率:2MHz;最小编程分辨率100ns,最小编程步长100ns;编程深度256k;信号幅度程控范围:2.0V~18.0V;最大寻址深度:64G;数字信号可采用直接输入、字符输入、程序输入三种方法编程; |
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模拟信号 |
多路多种类模拟信号发生单元及驱动电路,最高频率可达1MHz;最大驱动电流:1A;信号幅度Vpp20V;直流偏移量:0~1/2Vpp; |
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试验状态监测 |
64路信号示波监测接口;宽范围数字、模拟信号频率自动测试、记录;二级电源电压监测;
二级电源电流、信号峰值监测(可选) |
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通讯速率 |
500K |
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二级电源 |
可程控VCC、VMUX、VEE;
输出能力:2V~18V/10A;
具备灌电流能力; |
2组正电源:VCC1(+2V~+36V)、VCC2(+2V~+36V);
2组负电源:VEE1(-2V~-36V)、VEE2(-2V~-36V);电流为最大10A;
具有过流、过压及过热保护功能; |
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电源要求 |
输入:AC380V,50Hz,三相(220V单相可选); |
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整机功率:8kW以下 |
整机功率:12kW以下 |
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重 量 |
约500kg |
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外形尺寸 (宽×高×深) |
1313mm×1950mm×1350mm |

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