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PMWD-V series burn-in system for microwave transistor devices

 

 
 
    Reliability-series

 

 Compliances: GJB128, MIL-STD-750D

  Applications: Burn-in and screening test for metal and ceramic capsulated L and S

                              waveband microwave devices.

 Specifications:

Model

PMWD-VS

Burn-in mode

稳态方式

脉冲方式

Burn-in position

48个工位

48个工位

Detection range

I

0.1A-10.0A

0.1A-20.0A

V

0.1V-35.0V

0.1V-50.0V

Accuracy

I

±1% ±1LSB

±1% ±1LSB

V

±1% ±1LSB

±1% ±1LSB

Pulse signal

Adj. pulse width

10μs10ms,编程步长10μs

Adj. duty cycle

1%~20,编程步长1

Tr and Tf

100nS

Pulse power

10W-100W

10W-600W

Temperature range for single unit

60℃100℃

60℃100℃

Working feature

   可进行稳态功率和脉冲信号老化,稳态和脉冲信号老化方式可切换。

   每个试验器件提供一套老化平台,每套老化平台采用水循环冷却方式并具有单工位加热功能,各工位平台温度单独可调,温度的均匀性好。

   系统为每个老化器件提供一个温度传感器,能够对每个试验器件的壳温进行监测。

   老化中系统可实时对每个器件的老化电流、老化电压、散热平台温度进行测试、记录和打印。

   配置高洁净度老化电源,特有的试验电路有效抑制自激振荡。

        采用高频电磁波吸收材料和独立的试验电路配置。

        平台上的各个工位安装屏蔽罩,防止电路相互辐射干扰。

 

     Battery-series
 

 

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