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ELEA-VL series DSP IC high temperature dynamic burn-in system

 

 
 
    Reliability-series

 

 Compliances: GJB548 standard (corresponding to MIL-STD-883)

                        GJB597 standard (corresponding to MIL-M-38510)

  Applications: high temperature dynamic burn-in test for kinds of super large scale IC

                              such as DSP, FPGA or CPLD.

Specifications:

Model

ELEA-VL

Zone

8区(标准)

Test capacity

2×16

Test temperature

最高150

Digital signal

96路独立的高速数字信号发生单元,最高频率可达10MHz,各通道可独立定义为输入/输出属性;信号上升、下降沿时间小于10ns100pf容性负载);

Analog signal

单路多种类模拟信号发生单元及驱动电路,最高频率可达1MHz

Working feature

基于JTAG的边界扫描单元电路具有老化测试程序自由加载、内部逻辑功能和I/O管脚充分监测的能力。统针对各种DSPFPGA老化器件提供了代码覆盖较高的老化测试程序,实现了真正意义上的边老化边测试(TDBI)

BaudRate

500K

Secondary power

四路独立的高动态响应二级电源模块,最低电压可输出1V

Power

输入:AC380V,50Hz,三相(220V单相可选);整机功率:4kW以下

Weight

500kg

 

 

     Battery-series
 

 

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