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符合标准：MIL-STD-883、MIL-STD-750
适用范围：对于空封器件（包含密封电磁继电器、固体继电器、单片和混合集成电路、半导体
分立器件、光电器件等等）封装内的多余物松散微粒进行颗粒碰撞噪声检测，即
PIND试验。
技术指标：
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型 号 |
4511L |
4511L-R |
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组 成 |
控制仪、振动台、传感器、测试控制连接线、测试头、测试盒、控制软件等 |
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振动和冲击平台最大载荷 |
400g（25Hz~250Hz）
；500g（60Hz时） |
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冲击加速度 |
100g~3000g |
100g~800g |
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振动频率 |
25Hz~250Hz |
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振动加速度 |
0.1g~25.5g |
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噪声传感器灵敏度 |
155kHz 10V/Pa
对应
-77.5±3（DBD） |
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外形尺寸（高×宽×深） |
主机250mm×650mm×450mm |
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